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基于SEM/FIB表征方案在半导体陶瓷材料分析中的应用
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主讲人:管玉鑫   业务发展(BD)主管   北京欧波同光学技术有限公司
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报告摘要: 

欧波同有限公司可提供基于赛默飞(原FEI)电子显微镜的多尺度、多模式显微分析解决方案,报告以半导体陶瓷材料为主,主要介绍现代前沿的电子显微检测和表征技术,包含从微米到纳米尺度的分辨能力,从高分辨成像到元素、结构、原位等多维度综合性表征方案。报告还介绍了基于人工智能数据化分析手段,电子显微镜获取显微图像,人工智能软件可自动统计孔隙、裂纹、颗粒度、晶型等关键结构的尺寸、面积和占比等一系列信息。


讲师介绍
管玉鑫

业务发展(BD)主管

2005-2009 大连交通大学本科 2009-2012 大连理工大学硕士 2012-2015 天津三星电机 分析实验室SEM失效分析 2015至今 北京欧波同光学技术有限公司,从事SEM相关技术支持工作 从事电镜应用工作9年,擅长SEM在金属、半导体等行业的应用和分析,在原理、图像、分析数据解读上有较深的工作经验
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2022-07-22 15:36:50

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